Issue |
Photoniques
Number 72, Juillet-Août 2014
|
|
---|---|---|
Page(s) | 39 - 41 | |
Section | DOSSIER SOLEIL | |
DOI | https://doi.org/10.1051/photon/20147239 | |
Published online | 26 August 2014 |
Métrologie à SOLEIL : optique en rayons X
* pascal.mercere@synchrotron-soleil.fr
Les sources de 3e et 4e générations permettent aujourd’hui de produire des faisceaux de rayonnement X aux propriétés remarquables en termes de brillance, d’énergie et de cohérence, constituant des outils extrêmement puissants pour explorer la matière. Pour exploiter au mieux ces performances, et notamment afin de préserver la qualité optique de ce rayonnement, les optiques rayons X (réfléchissantes, diffractives ou réfractives), intervenant dans le transport et la mise en forme spatiale et spectrale des faisceaux, deviennent elles aussi de plus en plus exigeantes, tant du point de vue des procédés de fabrication mis en oeuvre que de leur intégration et alignement sur les lignes de lumière.
© EDP Sciences, 2014
Current usage metrics show cumulative count of Article Views (full-text article views including HTML views, PDF and ePub downloads, according to the available data) and Abstracts Views on Vision4Press platform.
Data correspond to usage on the plateform after 2015. The current usage metrics is available 48-96 hours after online publication and is updated daily on week days.
Initial download of the metrics may take a while.