Numéro |
Photoniques
Numéro 72, Juillet-Août 2014
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Page(s) | 39 - 41 | |
Section | DOSSIER SOLEIL | |
DOI | https://doi.org/10.1051/photon/20147239 | |
Publié en ligne | 26 août 2014 |
Métrologie à SOLEIL : optique en rayons X
* pascal.mercere@synchrotron-soleil.fr
Les sources de 3e et 4e générations permettent aujourd’hui de produire des faisceaux de rayonnement X aux propriétés remarquables en termes de brillance, d’énergie et de cohérence, constituant des outils extrêmement puissants pour explorer la matière. Pour exploiter au mieux ces performances, et notamment afin de préserver la qualité optique de ce rayonnement, les optiques rayons X (réfléchissantes, diffractives ou réfractives), intervenant dans le transport et la mise en forme spatiale et spectrale des faisceaux, deviennent elles aussi de plus en plus exigeantes, tant du point de vue des procédés de fabrication mis en oeuvre que de leur intégration et alignement sur les lignes de lumière.
© EDP Sciences, 2014
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