| Numéro |
Photoniques
Numéro 74, Novembre-Décembre 2014
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| Page(s) | 44 - 46 | |
| Section | DOSSIER TECHNOLOGIES OPTIQUES ET LUTTE ANTI-CONTRAFAÇON | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/photon/20147444 | |
| Publié en ligne | 22 décembre 2014 | |
La microtomographie X au service de la lutte contre la contrefaçon
La microtomographie des rayons X est une technique d’imagerie 3D de pointe, permettant d’obtenir rapidement la microstructure interne de tout type de matériaux ou produits avec un niveau de détail impressionnant. Cette technique, à la fois non-invasive et non-destructive, possède tous les atouts pour devenir une arme efficace pour lutter contre la contrefaçon.
© EDP Sciences, 2014
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