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Photoniques
Number 74, Novembre-Décembre 2014
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Page(s) | 44 - 46 | |
Section | DOSSIER TECHNOLOGIES OPTIQUES ET LUTTE ANTI-CONTRAFAÇON | |
DOI | https://doi.org/10.1051/photon/20147444 | |
Published online | 22 December 2014 |
La microtomographie X au service de la lutte contre la contrefaçon
La microtomographie des rayons X est une technique d’imagerie 3D de pointe, permettant d’obtenir rapidement la microstructure interne de tout type de matériaux ou produits avec un niveau de détail impressionnant. Cette technique, à la fois non-invasive et non-destructive, possède tous les atouts pour devenir une arme efficace pour lutter contre la contrefaçon.
© EDP Sciences, 2014
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