| Issue |
Photoniques
Number 103, Juillet-Août 2020
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| Page(s) | 46 - 49 | |
| Section | Comprendre | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/photon/202010346 | |
| Published online | 07 August 2020 | |
Analyse élémentaire : Des matériaux sans étalonnage
1
Aix-Marseille Université, CNRS, Laboratoire LP3, Marseille, France
2
Cetim Grand Est, Illkirch-Graffenstaden, France
* e-mail : hermann@lp3.univ-mrs.fr
La mesure de la composition élémentaire d’un matériau nécessite habituellement un étalonnage à l’aide de références de composition proche du matériau à analyser. Cela implique de connaître la composition du matériau et d’avoir à disposition des étalons adéquats.
La spectroscopie du plasma induit par laser permet de s’affranchir de cette étape d’étalonnage et de réaliser une analyse basée sur la comparaison d’un spectre mesuré avec le spectre calculé à l’aide d’un modèle : c’est l’approche « calibration-free ».
© Les auteurs, publié par EDP Sciences, 2020
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