Réflectomètre haute résolution AQ7420
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- Published on 06 February 2025
Communiqué de presse de Yokogawa Test & Measurement Corporation annonçant le lancement de son réflectomètre haute résolution AQ7420 :
« Utilisant la technologie OLCR (optical low-coherence reflectometry), l'AQ7420 est parfaitement adapté à l'analyse de la structure interne des modules optiques et à la visualisation des microfissures dans les connecteurs optiques. Il offre une résolution spatiale de 40 μm ainsi qu'une sensibilité exceptionnelle pour les mesures de réflexion arrière, allant jusqu'à -100 dB ou moins, sans bruit parasite. Associé à l'unité de tête de capteur optionnelle, les utilisateurs peuvent également mesurer simultanément la perte d'insertion en plus de la rétrodiffusion optique, faisant de l'AQ7420 un réflectomètre très efficace et économique pour de nombreuses applications optiques. »
