Nouveaux produits
Far-field analyzer for infrared sources
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- Publié le jeudi 15 juin 2023 08:30
The VTC 2400 from Instrument Systems is a high-resolution infrared camera that was custom-fit for 2D far-field analysis of the beam strength distribution of VCSEL and IR emitters. The cost-effective measurement system consists of a translucent, diffuse Lambert scattering screen and a monochrome camera specialized in measurements in the near infrared range. A light-tight camera body makes the system suitable for both laboratory and production applications.
Un appareil de mesure M2 amélioré pour mesurer la dynamique des effets de lentille thermique
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- Publié le mercredi 14 juin 2023 08:30
Haas Laser Technologies, un partenaire de LASER COMPONENTS, a optimisé la précision de mesure de son outil d’analyse de faisceau BWA-MON. Le design optique remanié permet de déterminer l’indice de diffraction M² dès une seule impulsion laser.
M2 measurement system « CAM SQUARED »
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- Publié le mardi 13 juin 2023 08:30
M2 measurement system “CAM SQUARED”, the latest product from Imagine Optic, offers precise and reliable analysis of laser beam quality with new records in M squared calculation speed and simplicity over other systems.
Kits d’enseignement optiques
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- Publié le vendredi 9 juin 2023 08:30
Opton Laser est heureux d’annoncer la reprise de son activité de distribution de kits d’enseignement avec son partenaire historique LUHS. Débuté en 1992 sous le nom de MEOS, ce partenariat fructueux s’était poursuivi jusqu’en 2017.
Le Laser Femtolux 30 propose une version en mode rafale GHz
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- Publié le mardi 6 juin 2023 08:30
Le laser Femtolux 30, médaillé d’or au Laser Focus World Innovators Awards 2022 pour sa nouvelle technologie de refroidissement (sans eau) continue son évolution et propose une version en mode rafale GHz. Le mode rafale GHz permet de former des salves d'impulsions laser ultracourtes à taux de répétition très élevé. La méthode développée est basée sur l'utilisation d'une boucle de fibre active tout en fibre (AFL), en instance de brevet, permettant de surmonter de nombreuses limitations rencontrées par les autres techniques fibre et/ou l'état solide.
Microscope Raman confocal
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- Publié le lundi 5 juin 2023 08:30
XperRAM S : Le XperRAM S permet de balayer de larges surfaces avec une grande vitesse grâce à sa technique de balayage laser avec un seul miroir Galvo. Il peut être équipé de trois lasers à longueurs d'onde différentes pour s'adapter aux différents échantillons et types d'application.
Autocorrélateur pour impulsions laser
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- Publié le vendredi 2 juin 2023 08:30
Le Tundra est un outil de diagnostic très sensible pour la mesure du contraste des impulsions laser. La plage dynamique permet de caractériser l’impulsion laser ou de voir les plus petites répliques pré et post-impulsion des lasers les plus puissants au monde. L'auto-corrélateur utilise des composants entièrement réfléchissants (hormis les cristaux non linéaires générateurs de signaux), garantissant des traces de corrélation exemptes d’artefacts de mesure.
Raman Spectrometer
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- Publié le mercredi 5 avril 2023 08:30
The Omni-iSpecTM is a Raman spectrometer integrated with a high throughput spectrograph (Omni-iSpecT). It is designed for high resolution and high speed Raman imaging. The Omni-iSpecTM has two models to accommodate different requirements: lasers, wavelength and spectral resolution. The high light collection efficiency capabilities of Omni-iSpecT spectrograph combined with ultra-sensitive CCD detectors offer versatile and sensitive detection solution for VIS & NIR applications.
Optical Power Meter
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- Publié le lundi 3 avril 2023 08:30
OPM-200 from Santect Corporation is a high performance optical power meter designed to provide accurate and precise measurements with a dynamic range of +8dBm to -80dBm. The OPM-200 is equipped with a variety of features that make it suitable for lab environments, while also being simple and robust for seamless integration into a manufacturing production line.
Metrology system for flat optics
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- Publié le vendredi 31 mars 2023 08:30
MESO metrology system is a one-stop solution for in situ process control of flat optics. A unique instrument allows to measure at several different wavelengths with no chromatic aberration and to characterize optics with a large range of diameters with no loss in resolution.
