Caractérisation topographique

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Publié le vendredi 3 janvier 2014 09:00

Nanolane propose une nouvelle génération d’équipements, les Sarfus Mapping, pour la caractérisation visuelle et topographique d’échantillons en temps-réel.

Basée sur la microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Constrast), cette nouvelle série d’instruments permet le suivi en temps-réel de modifications/d’interactions de surface et offre une imagerie et une caractérisation topographique avec une haute résolution latérale et une gamme de mesure d’épaisseurs de 0,1 à 300 nm. Les équipements Sarfus Mapping sont destinés à la caractérisation de nanofilms et nano-objets, au suivi d’interactions moléculaires et à l’étude du changement morphologique de couches ou de structures nanométriques.