Accord de coopération entre l’IEMN et Digital Surf
L’IEMN (Institut d’Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie), et Digital Surf, fournisseur de solutions logicielles pour l’imagerie des surfaces et la métrologie basées sur sa technologie dénommée Mountains, ont conclu un accord de coopération technique : l’IEMN a rejoint le programme de coopération technique Mount Shasta de Digital Surf. L’un des principaux domaines de recherche à l’IEMN est la physique des nanostructures et des dispositifs quantiques. Dans ce domaine, une partie majeure de l’activité expérimentale est le développement de méthodes et outils de mesure principalement basés sur la microscopie en champ proche pour permettre la caractérisation des nanostructures.
Le logiciel d’imagerie de surface et de métrologie MountainsMap de Digital Surf est utilisé avec une gamme de systèmes d’imagerie et de mesures à l’échelle micro et nanométrique, y compris les microscopes à effet tunnel (STM), les microscopes à force atomique (AFM) et autres microscopes en champ proche (SPM). Selon les termes de l’accord avec l’IEMN, Digital Surf fournit son logiciel MountainsMap à l’IEMN, tandis que le groupe Physique de l’IEMN donne un retour d’informations techniques pertinentes pour l’évolution des générations futures du logiciel.
En 2011, le Groupe Physique de l’IEMN a terminé le développement d’une plateforme appelée Nanoprobe, qui ouvre un champ de nouvelles caractérisations en nanotechnologie, en couplant la microscopie à effet tunnel à pointes multiples avec la microscopie électronique à balayage.
La plateforme, qui fonctionne dans un environnement ultravide à des températures variables (30 K – 530 K), peut réaliser une large gamme d’études, de la fabrication à l’analyse, sans risque de contamination de l’échantillon. Elle combine une chambre de préparation qui synthétise ou modifie chimiquement les nano-objets, et une chambre d'analyse qui possède une plateforme de microscopie à effet tunnel surmontée d'un microscope électronique à balayage. Combinées, ces deux techniques permettent d'observer, connecter et manipuler des nanostructures au sein de systèmes complexes ou de tester certaines parties actives de circuits intégrés de dernière génération.
